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GB/T 4210-2001 电工术语 电子设备用机电元件

作者:标准资料网 时间:2024-05-24 18:50:20  浏览:9580   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:电工术语 电子设备用机电元件
英文名称:Electrotechnical terminology--Electromechanical components for electronic equipment
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子元器件与信息技术综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 综合、术语学、标准化、文献 >> 词汇 >> 电子学 (词汇)
替代情况:GB/T 4210-1984
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2001-11-16
实施日期:2002-08-01
首发日期:1984-03-19
作废日期:1900-01-01
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:全国电工术语标准化技术委员会
归口单位:全国电工术语标准化技术委员会和全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
起草单位:信息产业部电子工业标准化研究所
起草人:陈奥、吴正平、汪其龙
出版社:中国标准出版社
出版日期:2004-04-02
页数:平装16开, 页数:33, 字数:68千字
书号:155066.1-18398
适用范围

本标准等同采用IEC 60050(581):1978《电工术语 电子设备用机电件》及其修改1(1998),是对GB/T 4210-1984的第一次修订。本词汇是国际标准IEC 60050《国际电工辞典》(I.E.V.)的第一部分,是其中的581章:电子设备用机电件。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 基础标准与通用方法 综合 术语学 标准化 文献 词汇 电子学 (词汇)
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【英文标准名称】:Medicalelectricalequipment--Particularrequirementsforthesafetyofinfantradiantwarmers
【原文标准名称】:医用电气设备.婴儿辐射保暖箱安全专用要求
【标准号】:JIST0601-2-21-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-25
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonMedicalEquipment
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,2.2.101で定義する乳幼児用放射式加温器について規定する。
【中国标准分类号】:C39
【国际标准分类号】:11_040_10
【页数】:26P;A4
【正文语种】:日语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting(IEC60749-30:2005);GermanversionEN60749-30:2005
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
【标准号】:DINEN60749-30-2005
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2005-06
【实施或试行日期】:2005-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;元部件;尺寸;可靠度;电气工程;试验;耐力;环境;密封性;温度;大气压;电子设备及元件;气候;表面安装;半导体;半导体器件;电学测量;可靠性试验;机械试验;气候试验;集成电路;外观检查(试验);热学;电子工程;环境试验;表面安装设备;潮气;易燃性;温湿度预调节;温度变化;气候的
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofDINEN60749establishesastandardprocedurefordeterminingthepreconditioningofnon-hermeticsurfacemount-devices(SMDs)priortoreliabilitytesting.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:德语